设计并制作一台能测试通用型集成运算放大器参数的测试仪.doc

《设计并制作一台能测试通用型集成运算放大器参数的测试仪.doc》由会员分享，可在线阅读，更多相关《设计并制作一台能测试通用型集成运算放大器参数的测试仪.doc（18页珍藏版）》请在沃文网上搜索。

1、摘 要 本系统采用STM32系统为核心器件，主要实现对通用型集成运算放大器输入失调电压、输入失调电流、交流差模开环电压增益和交流共模抑制比四项基本参数的测量。由于水平有限，现只是利用已有信号源，输出给参数测试电路测量，主要完成硬件部分的搭建工作与输出的显示。关键词：STM32，运放，输入失调电压，输入失调电流，交流差模开环电压增益，交流共模抑制比，硬件电路，显示 ABSTRACTThesystem uses theSTM32system as the corecomponents, the main achievementof thegeneral-purposeintegrated op-a

2、mpinput offsetvoltage,input offset current, ACvoltagedifferential-modeopen-loopgain andACCMRRfourbasic parametersof themeasurement.As thelevelis limited,thereareonly usingthe signalsource, the outputparameters ofthe testcircuittomeasure,mainly to completethe workwiththe hardwarepart of thebuildoutpu

3、tof theshow.Key Word:STM32， amplifier ，input maladjusted voltage，input maladjusted current，Exchange open loop gain differential-mode voltage，CMR AC，hardware circuit，display 第1章 设计任务及要求1.1 设计任务设计并制作一台能测试通用型集成运算放大器参数的测试仪，示意图如图1所示。图1 通用型集成运放参数测试仪框图1.2 设计要求1.2.1 基本要求（1） 能测试VIO(输入失调电压)、IIO(输入失调电流)、AVD (交

4、流差模开环电压增益)和KCMR (交流共模抑制比)四项基本参数，显示器最大显示数为 3999；（2）各项被测参数的测量范围及精度如下(被测运放的工作电压为15V)：VIO：测量范围为040mV（量程为4mV和40mV），误差绝对值小于3%读数+1个字；IIO：测量范围为04A（量程为0.4A和4A），误差绝对值小于3%读数+1个字；AVD：测量范围为 60dB120dB，测试误差绝对值小于3dB；KCMR：测量范围为 60dB120dB，测试误差绝对值小于3dB； （3）测试仪中的信号源(自制)用于AVD、KCMR参数的测量，要求信号源能输出频率为5Hz、输出电压有效值为4 V的正弦波信号，频

5、率与电压值误差绝对值均小于1%；（4）按照本题附录提供的符合GB3442-82的测试原理图(见图2图4)，再制作一组符合该标准的测试VIO、IIO、AVD 和KCMR参数的测试电路，以此测试电路的测试结果作为测试标准，对制作的运放参数测试仪进行标定。1.2.2 发挥部分（1）增加电压模运放BWG (单位增益带宽)参数测量功能，要求测量频率范围为100kHz3.5MHz，测量时间10秒，频率分辨力为1kHz；为此设计并制作一个扫频信号源，要求输出频率范围为 40kHz4MHz，频率误差绝对值小于1%；输出电压的有效值为2V0.2 V；（2）增加自动测量(含自动量程转换)功能。该功能启动后，能自动

6、按VIO、IIO、AVD 、KCMR 和BWG的顺序测量、显示并打印以上5个参数测量结果； 第2章 方案比较与论证2.1 信号源制作方案及论证2.1.1 信号源制作方案暂时使用现有的信号源2.2运放参数测试电路方案及论证2.2.1运放参数测试电路方案方案一：将（输入失调电压），（输入失调电流），（交流差模开环电压增益）和（交流共模抑制比），四项基本参数的测试原理图，将各原理图分别搭建起来，再根据所提供的标准方法来测量，从而得到标准值，而自动测量部分再加上STM32系统来分别控制三个模块电路，该方法的优点是各功能模块电路分开了，并没有干扰的存在，而且操作简单测量方便，但是由于三个电路模块所用的元

7、器件相同，存在资源的浪费，而且对各功能模块的分开操作，使得“自动测量”这一意义不存在了，对工业自动化并没有运用价值。也失去了我们发挥创新的部分，因而本设计我们未采用。a VIO、IIO电参数测试原理图b AVD电参数的测试原理与测试原理图c KCMR电参数的测试原理与测试原理图图2 集成运放各参数测试原理图方案二：考虑到各功能的模块许多元器件相同，为了避免资源的浪费，同时为了使自动化的实现更方便，我们考虑将这三个功能模块电路组合起来，放在一块电路板上，通过用STM32系统控制继电器的状态来切换测量电路实现各功能模块。电路图如下图3.图3 运放参数测试设计电路 第3章 系统硬件设计3.1 总体设

8、计思路 对于一个系统的设计首先要对系统的任务及要求有一个明确的了解，再根据所提供的相关信息帮助，将整个系统功能分成各个功能模块，从而实现系统整体功能。该系统的设计任务如下图4：被测运放运放参数测试电路信号源显示控制电路图4 通用型集成运放参数测试仪框图根据系统设计的模块划分模块来设计该系统，而该测试仪核心模块为运放参数测试电路及信号源的设计（暂且用现成的信号源）。再分析设计任务，及设计要求，我们考虑用STM32系统开发板来作为控制电路，用I/O口控制小型继电器的通断，从而实现各功能电路的切换。同时，利用STM32系统开发版内部自带的A/D转换器，进行A/D采样，将模拟量转换为数字量，再将其通过

9、其自带显示器显示，则整个系统的硬件设计基本完成。系统硬件组成框图如图5:信号源参数测试电路Stm32开发板控制显示电路图5 系统硬件组成框图3.2 各模块设计及参数运算3.2.1参数测量电路模块图6参数测量电路模块1. 测量输入失调电压控制S1-1、S1-2闭合，S4断开，S3接2，S5接2，用数字示波器测出辅助运放的输出电压VL0，则有：输入失调电压（3-1）2. 测量输入失调电流控制S1-1、S1-2断开，S4断开，S3接2，S5接2 ，用数字示波器测出辅助运放的输出电压VL1，则有：输入失调电流（3-2）3. 测量交流差模开环电压增益控制S1-1、S1-2闭合，S4闭合，S3接2，S5接

10、1，设信号源输出电压为Vs，测得辅助运放输出电压为VL0，则有交流差模开环电压增益（3-3）4. 测量交流共模抑制比控制S1-1、S1-2闭合，S4闭合，S3接1，S5接1，设信号源输出电压为Vs，测得辅助运放输出电压为VL0，则有交流共模抑制比（3-4）5. 实现自动控制以及量程切换(1) 考虑到测量量程问题，因而我们将分成10K与90K电阻，并要求这两个电阻的阻值严格满足要求，因而我们考虑用可调电位器来实现，选用20K及100K的电位器来实现，从而较易达到阻值的要求，同时利用一个开关来切换量程，以使R3/(R3+Rf)的值存在10倍的关系，实现两个量程的变换（04mv及4mv40mv的变换

11、）；同理在测输入失调电流时也同样存在开关的切合。根据提供的参数，我们将R3设为100欧姆，接成两电阻（10k与90k）的串联，R接成1兆欧，R1=R2=30千欧。考虑到辅助放大器测试方法的要求,要求辅助运放的开环增益大于60dB,输入失调电压和失调电流值小。OP07的精度高失调电压和失调电流较小，且不需要自校准电路，所以选择OP07作为辅助运放。(2) 为了实现自动控制，我们只是将各开关换成了继电器，由于继电器的可控性，通过stm32I/O口来控制继电器的通断来实现各功能电路的切换，在标准电路后面与stm32连上，实现电路参数测试的自动化。从而大大简化了电路的烦琐程度。3.2.2 继电器驱动电

12、路图7继电器的驱动电路如图7，STM32的I/O口无法直接驱动继电器，必须要接三极管来驱动，当GPIO输出低电平继电器吸合，当GPIO输出为高电平，继电器的衔铁放开。3.2.3测试结果的显示测量VIO以及IIO时只需将OP07输出的信号接到开发板的AIN1上，经过A/D转换将模拟量转换为数字量，然后通过软件处理与运算将结果显示在开发板的屏幕上。测量AVD和KCMR时需同时将信号源输出信号接到AIN0以及将OP07输出信号接到AIN1上，然后软件处理后将结果显示在开发板的屏幕上。 摘 要：本设计采用AT89C55WD单片机和可编程逻辑器件（FPGA）作为其测试和控制核心，能够测试通用运放的基本参

13、数并实现自动量程转换等功能。运放测试电路参照了任务书中所给电路，用单片机控制继电器进行切换，可编程逻辑器件FPGA控制A/D采样，单片机实现顶层的控制，使整个系统能够协调工作，以完成题目要求。另外，本设计也对发挥部分进行了一定的设计，完成了增益带宽测试和自动循环测试功能。设计中采用了模块化设计方法，提高了设计和调试效率。关键词：集成运放，可编程器件（FPGA），单片机（AT89C55WD），继电器1. 系统方案选择和论证2. 1.1系统基本方案 根据题目要求，系统可以划分为控制模块、测试模块和信号源模块。模块框图如图1.1.1所示。为实现各模块的功能，分别做了几种不同的设计方案并进行了论证。控

14、制模块测试模块信号源模块图1.1.1 测试仪的基本模块方框图 1.1.1各模块方案选择和论证(1) 控制器模块根据题目要求，控制器主要用于控制测试电路的切换、控制A/D转换模块、信号源的控制和对显示模块的控制。对于控制器的选择有以下三种方案。方案一：采用FPGA(现场可编程门阵列)作为系统的控制核心。FPGA可以实现复杂的逻辑功能，规模大，密度高，它将所有器件集成在一块芯片上，减小了体积，提高了稳定性，并且可应用EDA软件仿真、调试，易于进行功能扩展。FPGA采用并行的输入输出方式，提高了系统的处理速度，适合作为大规模实时系统的控制核心。由测试模块输出的信号并行输入FPGA，FPGA通过程序设

15、计控制A/D转换，并进行输出，但由于本设计对数据处理的速度要求不高，FPGA的高速处理的优势不能得到充分的体现，并且由于其集成度高，硬件量大、设计复杂且难度大，可能会影响完成任务的进度。方案二：采用单片机（AT89C51）作为系统的控制核心。单片机算术运算功能强，软件编程灵活，可用软件编程实现各种算法的和逻辑控制，但由于设计中要求复杂的逻辑控制，单片机的硬件设计简单，这就会大大加强软件编程的工作量，可能会导致程序的混乱，且单片机的硬件简单，其口线不足，就可能导致设计不能成功。方案三：采用单片机(AT89C55)和复杂可编程逻辑器件(FPGA)共同作为系统的控制核心。单片机实现顶层控制和数据处理

16、，FPGA实现底层控制。在单片机的管理下，由复杂可编程逻辑器件FPGA完成具体的操作，例如对信号的采样和存储，信号源的控制；而单片机实现对FPGA及整个测试仪的管理，例如选择所要测试的运放参数；数据处理；键盘选择显示参数，等等。这样可以结合两者的优点，使两者有机的结合起来。减少每个部分的工作量。基于以上分析，因此本设计采用方案三。初步拟定控制器的组成如图1.1.2虚线框内所示。 图1.1.2 控制器框图(2)参数测试模块 本模块主要用于运放参数的测量，输出的是模拟量。所要测试参数的电路具有一定的共同点，所以可考虑用开关进行切换，以达到不同的功能。因此，在设计过程中主要考虑的是能否有效的切换到各

17、参数测量电路中，对于开关的选择有以下三种方案。方案一：用拨号开关来实现电路的切换。拨号开关是完全的用人工进行控制。由于本模块中采用了较多的切换器件，在电路中容易产生混乱，而且如果要做到完全统一调度也是非常困难的，由于是手动控制，效率是非常低的。方案二：用模拟开关来实现电路的切换。模拟开关可以由单片机来控制其通和断，但是，模拟开关在进行切换的时候，会有一些分布参数，例如模拟开关的内阻和分布电容等参数，又因为信号的幅度很小，如果这些参数比较大，就会严重影响到信号。方案三：用继电器来实现电路的切换。继电器可以用集成芯片SN75451来驱动继电器以实现电路的通断。12V直流驱动的继电器的触发电阻50

18、能够满足小幅度信号的要求。基于继电器的以上优点，本模块中采用方案三作为开关，以实现电路的不同功能。(3) 信号调理模块模拟信号输出是一低频信号，且存在有一定的干扰，特别是50Hz交流电及其高次谐波的影响较大，所以要采用具有最大平坦响应的巴特沃斯二阶RC有源低通滤波器来进行信号的条理。 当测时，扫频信号的频率范围是40kHz4MHz，这就会有低频信号的干扰，所以要滤除其低频干扰。所以采用了巴特沃斯二阶RC有源高通滤波器。 在测试不同的参数时，要选择不同的滤波器，可采用继电器进行切换，以实现不同参数的测试。 (4) 信号源模块 测试信号源产生模块在进行、测试的时候，需要接输出频率为5Hz、输出电压

19、有效值为4V 的正弦波信号，这就要求设计此模块，有以下三种方案。方案一：用晶体振荡电路产生符合要求的正弦波信号。晶体可以产生非常稳定的正弦波信号，但是，要求的是输出频率为5Hz、输出电压有效值为4V，对于低频而言，晶体是很难做到这么精确的指标。 方案二： 用555定时器产生符合要求的正弦波信号。因为测试信号源的精度要求很高，而555定时器的电阻和电容的取值将影响到输出脉冲的宽度，随着的宽度的增加，它的精度和稳定度也将下降。由于是要求输出频率为5Hz，的宽度将会很大，这就会严重影响到精度和稳定度。 方案三：用FPGA和D/A转换器产生符合要求的正弦波信号。频率精度很高，而且稳定度也很高。由于要求

20、的频率很低，所以一般的D/A转换器就可胜任。符合任务中的要求。所以，基于以上分析，拟定方案三。框图如图1.1.3所示。FPGAD/A测试模块信号调理图1.1.3 测试信号源产生框图 扫频信号源模块由于任务要求制作一信号源，且输出频率范围为40kHz4MHz,误差小于1%，电压有效值为2V0.2V有以下两种方案可供选择： 方案一：用专门的DDS芯片做符合要求的扫频源。由于芯片的成本很高，而且市场供应不足。所以不采用此方案。 方案二：用FPGA做符合要求的信号源。FPGA的逻辑功能强大，集成度高，减小了体积，提高了稳定度。使用VHDL语言，设计灵活，且自由度大，可应用MaxPlus II软件仿真、

21、调试、易于功能扩展。基于以上优点，本模块采用方案二。 显示模块 显示器是人机接口输出的一部分，良好的人机接口将会使输出内容能够更加的丰 富。我们考虑以下两种方案。方案一：采用LED(发光二极管)作为显示部分。LED有8段和米字型两种用于显示各种数字。但是，LED显示的形式比较单一，功能简单，而且比较耗电。人机交换比较困难。方案二：采用LCD（液晶显示器）作为显示部分。LCD具有以下优点： 轻薄短 小、 低好电量、 无辐射危险、 平面直角显示、 影像稳定不闪烁、 可视面积大、 画面效果好、 分辨率高。LCD有显示图形、字符和数字等功能，且LCD的人机界面友好。在本设计中要能显示数码、字符以及汉字

22、，只有点阵式显示器才能够胜任。所以，基于以上方案，本模块采用LCD作为显示器。 1.1.2 系统各模块的最终方案经过仔细的分析和论证，决定了系统个模块的最终方案如下： 控制模块：采用单片机(AT89C55)和复杂可编程逻辑器件(FPGA)共同控制； 集成运放参数测试模块：采用继电器切换的测试电路； 信号调理模块：采用二阶RC有源滤波器； 测试信号源产生模块：采用FPGA和D/A转换器产生正弦波信号； 扫频信号源模块：采用FPGA产生方波扫频信号； A/D 转换模块：采用AD1674作为转换器；显示模块：采用LCD(液晶显示器)。系统的基本框图如图1.1.4所示。单片机主要用于顶层控制和运算处理

23、电路，而FPGA实现底层控制，实现某部分具体电路的功能，两部分可以进行有机的结合，以实现其任务书所给要求。其工作过程如下：系统通电后，用单片机控制测试电路进行模式选择，实现各种参数的测试，模拟量经信号调理后，单片机发出信号以实现FPGA对A/D的采样，FPGA将采样后的数据存入RAM，发出信号给单片机，使单片机从RAM中读出采样好的数据，再进行运算处理，最后控制LCD进行输出。 单片机键盘显示模块FPGA运放参数测试电路模块测试信号源扫频信号源A/D转换电路模块RAM信号调理电路D/A转换器 图1.1.4 系统基本框图2.系统的硬件设计与实现2.1 系统硬件的基本组成部分 本题是一个含有各种技

24、术的综合设计，在设计中运用到了模拟电子技术、数字电子技术和可编程技术。系统可分为测试部分和智能控制部分。 测试部分：系统完成各种参数的测试，就要运用到各种测试电路。测试部分包括3个单元电路：各种参数测试电路、信号调理电路、A/D采样电路、 控制部分：单片机控制测量参数的选择，并进行对FPGA的顶层控制；而FPGA实现对A/D采样的底层控制，以完成模数转换，再由单片机控制显示。控制部分包括2个主要单元电路：单片机控制电路、FPGA控制电路。信号源部分：FPGA产生控制信号并通过D/A产生所需的信号源。信号源部分包括两个主要单元电路： 低频正弦波信号源、扫频信号源。2.2 主要单元电路的设计 2.

25、2.1 测试部分的单元电路设计 参数测试电路的设计 题目要求能测试、五个参数。由于题目附录中给出了每个参数标准电路，并给出了参考阻值。经过综合考虑，本单元电路利用给出参考阻值，并用继电器进行切换。为保证测量精度，要求R、的阻值准确测量，、的阻值尽可能一致；与R的乘积远大于；与/的乘积应远小于。我们取=100、=20k、=30k、=10k、R=1M。由于要求量程切换。在此可以取两个值进行切换，另一个=200k 电路如图2.2.1所示： 图2.2.1 测试电路电路图由于辅助运放的性能好坏对测试结果的精度有直接的影响，因此在选择辅助运放时，我们查找和比较了多种运放的性能参数，通过比较，我们最后选择O

26、P37A作为该电路的辅助运放。OP37A的输入失调电压为10uV ,输入失调电流为7nA,交流差模开环增益为126dB，交流共模抑制比为120 dB，单位增益带宽为40MHz。其性能参数和通用运放相比，要小12个数量级，因此，我们采用OP37A作为辅助运放。测试电路的切换通过继电器的通断来控制，当单片机发出模式切换的信号后，由GAL门对模式控制信号进行译码，再推动75451完成对继电器的控制。在本电路中GAL门选择ATMEL公司的ATF16V8B。例如：当单片机发出控制信号0001，经GAL门译码后，通过75451推动K1、K2、K3、K5闭合，从而使测试电路切换到失调电压的测试状态。根据测量

27、参数和量程切换的要求，本测试电路需要GAL门切换9种模式，译码结果如表2.2.1所示表2.2.1 GAL门控制电路译码表控制信号译码结果0x000xFF0x010xCB0x020x8c0x030xAB0x040xCC(续表2.2.1)0x050xDC0x060xCE0x070x5C0x080x6E 信号调理电路 低通滤波电路从测试电路出来的信号会有一定的干扰，这样就会严重影响到后级的测试精度，所以要加上抗混滤波电路，在测试时要让高频信号通过，而在测试其他参数时要让低频信号通过，所以采用了继电器切换，在测试时是直通的，在测试其他参数时加上低通滤波电路，采用的是二阶有源低通RC滤波器。设计电路如图

28、2.2.2所示。 图2.2.2 低通滤波器 因为，所以取低通滤波起的截止频率，利用滤波器的快速设计方法，从表中查出一电容（uF）使其满足，在此，取增益为1对应的电容 C=4.7u，对应的电阻，又由于K=2，可以得到电阻, ，电容u，在实际中我们采用的参数是、C=4.7u、u ，可以进行很好的低通滤波。 高通滤波器 在测试时要使扫描信号通过，扫描信号的频率为40kHz4MHz,这就要进行高通滤波电路。由前面方案论证可知，选用二阶高通RC有源滤波器。其电路图如图2.2.3所示。并且可根据其快速设计方法得出参数值。图2.2.3 高通滤波器因为扫描信号的输出最低频率为40kHz，所以设计截止频率，因为

29、，所以C=1000P, ,对应的K=5。查表可得：，（实际取10k）。就可得到高通滤波。 A/D采样电路本电路通过A/D采样的方式实现对运放测试参数的采集和处理，由于题目精度要求较高，经过计算，只有当A/D芯片最小分辨率小于10Mv时，才能实现达到题目的精度要求因此在本设计中采用12位高精度A/D转换器AD1674作为A/D采样芯片。该芯片最小分辨率为4.875mV，完全可以达到设计的精度要求，虽然其转换速率为100KSPS，但是由于本设计主要采集的是低频和直流信号，因此转换速度仍然可以满足设计要求。2.2.2 控制部分的单元电路设计 单片机控制电路单片机选用MCS-51系列，由于菜单较复杂，

30、程序代码较长，因此选用了AD89C55WD芯片。本系统由51单片机的p2.0p2.4口通过I/O方式控制测试电路的模式切换，通过p0口和p2口完成RAM内数据的读取。 主单片机使用了4*4键盘，128*64液晶显示器（LCD）。单片机按键动能 键1：输入失调电压 ； 键2： 输入失调电流；键3： 交流差模开环增益； 键4： 交流共模抑制比； 键5： 单位增益带宽； 键6： 键盘功能说明； 键A: 自动扫频步进； 键B： 手动扫频步进； 键C： 扫频源清零； 键0： 自动循环测量； FPGA控制电路FPGA控制电路框图2.2.4如下：MPU FPGA DAC SRAMD_BUSADCC_BUSD

31、_BUSC_BUSD_BUSD_BUSA_BUSA_BUS图2.2.4 FPGA控制电路框图当单片机发出采样信号后，FPGA通过状态机控制A/D转换器进行A/D采样，将采样完的数据转存进RAM中，当进行、参数测试时，系统以160Hz的速度进行采样，称为慢采样。当测试单位增益带宽时，以100kHz的速率全速采样，称为快采样。AD转换器的控制信号由FPGA产生，FPGA在AD转换时获得SRAM的控制权，随后读取AD转换后的数据，经过内部锁存器后，存入SRAM，存满一定量的数据后，发出高电平，并释放SRAM的控制权通知MPU采样已经完成采样，MPU可以读取SRAM中的数据。 本逻辑电路时序比较复杂，

32、而一般的CPLD不但容量比较小，且内部不可以集成ROM模块，所以采用了FPGA型号为ALTRA公司的FLEX EPF10K10LC844 。 信号源部分 信号源是测试运放参数所必须的，因此高精度、高稳定性的信号源对测试数据的影响很大。 低频正弦波信号源 DA转换器的状态为常通状态，转换得数据由FPGA提供，实现了用DDS产生高精度的5HZ的正弦波信号。 扫频信号源扫频信号有12M的脉冲可控分频获得，MPU发出扫频信号，FPGA 利用扫频信号的上升沿，作累加，把累加后的数据，送给可控分频器，产生频率可控信号源。3. 系统的软件设计 3.1 系统的总体框图 本系统软件总体框图3.1.1如下；显示标

33、题按键判断测量失调电压测量失调电流测量差模增益测量共模抑制比测量增益带宽扫频源测试图3.1.1 系统软件总体框图 3.2 失调电压测试子程序 当测试失调电压时，单片机将A/D采样的数据读入再进行计算，若小于其设定门限值，则换小量程进行计算，最后由LCD进行输出显示。其流程图如图3.2.1所示。 图3.2.1 失调电压测试流程图 3.3失调电流测试子程序失调电流测试程序和失调电压测试子程序差别不大，只是在采样后的处理不一样，因为失调电流的测试需要先进行失调电压的测量，再利用失调电压算出其失调电流。其程序流程图如图3.3.1所示。 图3.3.1失调电压测试流程图3.4 交流差模开电压增益测试子程序

34、在测试时，就不用进行量程切换，FPGA以160Hz的采样率进行采样，一个周期采32个点，单片机取出已采好的点，先去除直流分量，然后算出其峰-峰值，进一步算出其有效值。再利用公式进行处理，最后送显示。其程序流程图如图3.4.1所示。 图3.4.1 交流差模开电压增益测试流程3.5 交流共模开抑制比测试子程序在测试时，就不用进行量程切换，FPGA以160Hz的采样率进行采样，一个周期采32个点，单片机取出已采好的点，先去除直流分量，然后算出其峰-峰值，进一步算出其有效值。再利用公式进行处理，最后送显示。其程序流程图如图3.5.1所示。 图3.5.1 交流共模开抑制比框图3.6 单位增益带宽测试子程

35、序在测试时，数据处理部分采用的是折半查找法。首先，单片机控制扫频信号源产生40kHz的信号，然后，测出当前输出电压的有效值。以此做为比较的基准值，然后单片机控制扫频信号源，步进到500kHz，再次测量输出电压的有效值，如果电压小于基准值的0.707倍，则以一半的步进减小频率值，反之，则增大频率值。如此循环直到找到最接近输出电压基准值0.707倍的频率。此算法的优点在于节省了运算的时间，效率大为提高。4. 系统测试为了确定系统与题目要求的符合程度，我们对系统的关键部分进行了实际的测试。4.1 测试仪器测试使用的仪器测试使用的仪器设备如表4.1.1所示。表4.1.1测试使用的仪器设备仪器名称型 号

36、指 标生产厂家数 量稳压电源WYK-302B2030V扬州金通电子有限公司2双踪模拟示波器VP-5564840MHz1双踪数字示波器A54622A100MHzAgilent1数字万用表GDM-8055 利伟仪器公司 1PC机联想PCP1.7G/256M内存联想公司1低频信号发生器XJ163101MHz上海无线电二十一厂1 4.2 指标测试使用的测试运放为UA741,被测试运放的工作电压为15V。 4.2.1 标准电路测试参数值-1.328mV-2.20nA94dB90 dB 4.2.2 （输入失调电压）测试 序号12345（mV）-1.328-1.264-1.104-0.985-1.006 4

37、.2.3 （输入失调电流）测试序号12345(nA)-2.25-2.22-2.19-2.28-2.20 4.2.4 （交流差模开环电压增益）测试序号12345(dB)949094100944.2.5 （交流共模抑制比）测试序号12345(dB)90888890904.2.6 （单位增益带宽）测试序号12345(KHz)6015865945835764.2.7 低频信号源测试序号12345电压有效值（V）44444频率（Hz）555554.2.8 扫频信号源的测试扫频信号源的输出频率范围为40KHz4MHz,序号12344电压有效值（V）222224.2.9 系统实现的功能基本部分：能够实现对通

38、用运放基本参数的测量；输入失调电压和输入失调电流的误差绝对值小于3%，交流差模开环电压增益和交流共模抑制比的绝对值误差小于3dB；系统能够提供频率为5Hz，电压有效值为4V的正弦波信号，且误差小于1%；自己制作了标准测试电路，并且能准确测量其参数。发挥部分：系统能够输出一个频率范围为40KHz4MHz扫频信号源，且误差绝对值小于1%；并且系统有单位增益带宽的测试功能；系统增加了自动循环测量功能。5总 结本次设计竞赛，我们采用了单片机技术、在系统可编程技术和模拟技术使三者有机的结合起来。设计理念先进，性能稳定。在测量方面采用了高精度数字测量方法，确保了测量的精度和测量的稳定性。此次竞赛我们多采用了良好的人机界面环境，取得了相当好的显示效果。本次电子设计竞赛促进了我们的团队合作精神，在设计制作的过程中我们充分发挥了团队合作精神。这次竞赛的过程使我们有了一次 深刻的经历，我们利用了已学的知识，发挥了自己的才智将课本中介绍的理论方法变成了一种实实在在的作品，我们深深感觉到理论联合实践的重要。另外，这次经历使我们更体会到在任何的艰难困苦乃至绝望的时候一定要保持必胜的信心和坚定的信念。通过这次竞赛我们更加明确了个人以后奋斗发展的目标。